Ytanalys

Ytanalys med AES (Auger Electron Spectroscopy, augerelektronspektroskopi)

Ytanalys med AES används för kemisk kartläggning av tunna ytskikt eller små partiklar. Både informationsdjup och lateralupplösning är på nanometernivå vilket innebär att upplösningen är ca tusen gånger högre än för EDX. Med hjälp av en argonjonkanon är det möjligt att göra kemiska djupprofiler, dvs. att bestämma den kemiska sammansättningen som funktion av avståndet från ytan. AES-instrumentet är även utrustat med en in situ-brott enhet som gör det möjligt att slå av provstavar i ultrahögvakuum och analysera brottytan utan att den oxiderats eller kontaminerats genom atmosfärens inverkan. Detta är ett värdefullt verktyg för att t.ex. identifiera försprödande korngränssegring.

Typiska användningsområden:

  • Bestämning av ytrenhet på medicinska implantat
  • Analys av små partiklar (<0.1 µm)
  • Kemisk karakterisering av oxidfilmer/beläggningar

Physical Electronics, PHI 700Xi Scanning Auger Nanoprobe

AES spektrum, röd- vatten, grön-70Etanol, blå-referensprov.
AES spektrum, röd- vatten, grön-70Etanol, blå-referensprov.
AES

Optisk 3D-profilometri

Optisk 3D-profilometri är en teknik för visuell och kvantitativ karakterisering av en materialytas topografi. Med tekniken kan 2D- och 3D-bilder erhållas av ytan. 3D-bilder av ytan möjliggör t.ex. volymberäkningar av eroderade eller nötta ytor.

Typiska användningsområden:

  • Bestämning av ytfinhetsparametrar såsom t.ex. Ra, Sa, Rz
  • Mätning av slitage/nötning
  • Sprickkontroll
  • 3D-bilder av ytan

Veeco Wyko NT9100 System and 4.1 Vision Analysis Software

Ytanalys av en nött yta.
Ytanalys av en nött yta.

Ytanalys med ToF-SIMS
(Time-of-Flight Secondary Ion Spectrometry,
löptidssekundärjonmasspektrometri)

ToF-SIMS är en teknik för ytanalys som möjliggör kemisk och molekylär karakterisering av alla fasta material, även organiska och polymera material. Metoden är extremt ytkänslig och detektionsgränsen är på ppm-nivå i översta atomlagret. ToF-SIMS kan även användas till kemisk djupprofilering genom att använda instrumentet galliumjonkanon både för sputtring och analys. Resutatet från en analys kan även presenteras i form av kemiska kartor (mapping) över den analyserade arean.

Typiska användningsområden:

  • Identifiering av kemiska substanser på ytor
  • Identifiering av spårämnen
  • Verifiering av kemiskt tillstånd

Physical Electronics, PHI TRIFT II

Substans på implantat.
ToF-SIMS

AES

Läs mer!

ToF-SIMS

Läs mer!

Optisk 3D-profilometri

Läs mer!

Click on one of the boxes to read more!

Information kopplat till bild 2

Information kopplat till bild 3

Information kopplat till bild 4

Information kopplat till bild 5

Information kopplat till bild 6