Mikroskopi

Ljusmikroskopi

Ljusmikroskopi, även kallad ljusoptisk mikroskopi (LOM), är en effektiv metod för materialkarakterisering upp till 1000x förstoring. Tekniken används främst på polerade och etsade prover för mikrostrukturanalys, vilket utgör ett viktigt steg i samband med haveriutredningar och kvalitetskontroller av material. Materialkarakterisering med ljusmikroskopi innefattar vanligen fasidentifiering men används också för att beräkna kornstorlek, mäta ytskikt och identifiera eventuella sprickor, slagginneslutningar och porer i material.

Vanliga skadeorsaker som kan upptäckas med LOM innefattar bland annat olika typer av svetsfel, spricktillväxt till följd av en mekanisk skada, kornförstoring och fasomvandlingar orsakad av felaktiga parametrar vid värmebehandling, etc.

Typiska användningsområden:

  • Mikrostrukturbestämning
  • Mätning av ytskikt/beläggningar
  • Karakterisering av sprickor
  • Undersökning av svetsar

Leica DRME Light Microscope

Ljusmikroskopi
Mikrostruktur i svets (Cu)
Ljusmikroskopi
Mikrostruktur i gjutjärnslegering (segjärn)
Ljusmikroskopi
Spricka i G-X75 CrNiSi 23-2-1
Ljusmikroskopi
Etsat längssnitt av skruv, sprickor på gängflanker