Ytanalys

Ytanalys, i första hand med AES (Augerelektronspektroskopi), har sedan slutet av 1980-talet dominerat Materiex uppdragsverksamhet. Sedan 1992 har vi rutinmässigt utfört renhetskontroll av medicinska implantat för en rad tillverkare samt hjälpt dem att lösa diverse renhetsrelaterade produktionsproblem. Andra viktiga områden där vi hjälpt företag med ytanalys är kartläggning av ytoxider på rostfritt stål och nickelbaslegeringar.

ToF-SIMS (time-of-flight secondary ion mass spectrometry, löptidssekundärjonmasspektrometri) är ett kraftfullt verktyg för att kemiskt och molekylärt kartlägga mycket tunna ytskikt. Läs mer om våra ytanalystekniker här.

Typiska ytanalysuppdrag:

  • Kemisk karakterisering av tunna ytskikt, ned till nanometernivå.
  • Tjockleksbestämning och kemisk ytprofilering av tunna ytfilmer såsom oxider genom argonjonetsning (sputtring)
  • Identifiering av försprödande korngränssegring med hjälp av in situ-brott som utförs i ultrahögvakuum.
  • Identifiering av föroreningar i organiska och polymera material
  • Identifiering av ytkontamination

Information kopplat till bild 1

Information kopplat till bild 2

Information kopplat till bild 3

Information kopplat till bild 4

Information kopplat till bild 5

Information kopplat till bild 6