Elektronmikroskopi (SEM)
Elektronmikroskopi (svepelektronmikroskopi) är en kraftfull teknik för avbildning av material med mycket hög upplösning, ner till nanometernivå. SEM ger ett stort skärpedjup vilket gör det möjligt att studera ytor med kraftig topografi, såsom brottytor. Avbildning i SEM möjliggör förstoringar upp till 100 000x. Vårt SEM är även utrustat med en EDX-detektor som möjliggör kemisk analys och karakterisering av material och partiklar ner till 1 µm.
Typiska användningsområden:
- Haveriutredningar (analys av brottytor)
- Kemisk analys
- Analys och identifiering av främmande partiklar/substanser
- Mätning av ytskikt och tunna beläggningar
HITACHI SU5000 med SE och BSE-detektorer.
Energidispersiv röntgenanalys (EDX)
Energidispersiv röntgenanalys (EDX) är en mikroanalysteknik som används tillsammans med SEM. EDX möjliggör kemisk analys av t.ex. inneslutningar, oxider eller föroreningar ner till 1 µm i storlek.
Typiska användningsområden:
- Kemisk analys och kartläggning av beläggningar, partiklar eller t.ex. oxider.
- Analys av korrosionsangrepp
- Identifikation av metalliska material.
Bruker XFlash 5030.