Mikroskopi

Elektronmikroskopi (SEM)

Elektronmikroskopi (svepelektronmikroskopi) är en kraftfull teknik för avbildning av material med mycket hög upplösning, ner till nanometernivå. SEM ger ett stort skärpedjup vilket gör det möjligt att studera ytor med kraftig topografi, såsom brottytor. Avbildning i SEM möjliggör förstoringar upp till 100 000x. Vårt SEM är även utrustat med en EDX-detektor som möjliggör kemisk analys och karakterisering av material och partiklar ner till 1 µm.

Typiska användningsområden:

  • Haveriutredningar (analys av brottytor)
  • Kemisk analys
  • Analys och identifiering av främmande partiklar/substanser
  • Mätning av ytskikt och tunna beläggningar

Zeiss FEG Ultra 55 with SE, BSE, In-Lens SE and In-Lens BSE detectors.

Elektrondiffraktion (EBSD)

EBSD är en teknik som används tillsammans med SEM och ger kristallografisk information om mikrostrukturen hos kristallina material. EBSD kan ge information om fasfördelning, kristallorientering, restspänningar etc.

Typiska användningsområden:

  • Kornstruktur, storlek, orientering och distribution
  • Fasidentifiering
  • Identifikation av metalliska material, mineraler

Oxford Instruments HKL, NordlysF.

Elektronmikroskopi
Etsat tvärsnitt av krombelagt gråjärn (SEM)
Elektronmikroskopi
Interkristallint sprödbrott (SEM)
Elektronmikroskopi
EBSD-karta som visar kristallorienteringen hos ett felaktigt värmebehandlat rostfritt stål.