Sekundärjonmasspektrometri (ToF-SIMS)

ToF-SIMS är en teknik för ytanalys som möjliggör kemisk och molekylär karakterisering av alla fasta material, både metalliska, organiska och polymera material. Metoden är extremt ytkänslig och detektionsgränsen är på ppm-nivå i översta atomlagret. Ytanalys med ToF-SIMS utförs genom att provytan sputtras med galliumjoner vilket dessutom möjliggör kemisk djupprofilering. Resultatet av en analys kan även presenteras i form av kemisk kartläggning (mapping) över den analyserade arean.

 

Typiska användningsomården

• Identifiering av kemiska substanser på ytor
• Identifiering av spårämnen
• Verifiering av kemiskt tillstånd

Physical electronics (PHI) Trift II.