Mikroskopi och ytanalys

Avbildande teknik

  • Optisk mikroskopi (LOM), Leica DRME
  • Stereomikroskopi (SLOM)
  • Svepelektronmikroskopi (SEM), Zeiss ULTRA 55
  • Bildanalys Qwin

Kemisk analysteknik

  • FT-IR spektrometer, Spectrum One Perkin Elmer
  • Röntgenfluorescensspektrometri (XRF), Niton XL3t GOLDD
  • Röntgenspektroskopi (EDX), Oxford PentaFETx3
  • Elektrondiffraktion (EBSD),  Oxford Instruments HKL, NordlysF
  • Augerelektronspektroskopi (AES), PHI 660
  • Sekundärjonmasspektrometri (ToF-SIMS), PHI TRIFT II

Topografisk mätteknik

  • Interferensprofilometri, Wyko NT9100
  • Släpnålsprofilometri