Kemisk analysteknik

 


Sputterkrater 40×40 µm från ToF-SIMS






FT-IR Spectrometer, Spectrum One, Perkin Elmer

Med FT-IR (Fourier Transform Infrared Spectroscopy) kan vi identifiera organiska material som t.ex. polymerer, oljor och föroreningar.







Röntgenfluorescensspektrometri (XRF), handhållen Niton XL3t GOLDD

Vi utför sammansättningsmätning i fält med en handhållen Niton XL3t GOLDD. Vi kan t.ex. analysera stål, aluminiumlegeringar, kopparlegeringar, plaster, ädelmetaller och mineraler.

  


 

 

Röntgenspektroskopi (EDX), Oxford PentaFETx3

Sammansättning hos material analyserar vi i SEM med elektrondispersiv röntgenanalys, EDX . Vi kan analysera sammansättningen hos strukturbeståndsdelar ner på mikrometernivå.

INCA-systemet som används vid EDS-analys




Elektrondiffraktion (EBSD),  Oxford Instruments HKL, NordlysF

Med EBSD kan man kartlägga mikrostrukturen hos kristallina material och därigenom undersöka t.ex. kornstorlek och kornorientering. Nedan visas kornstrukturen hos ett seghärningsstål (42CrMo4) i en vevstake till en dieselmotor från en U-båt.

EBSD-mapping från vevstake i dieselmoter i en U-båt


Augerelektronspektroskopi (AES), PHI 660

Med Augerelektronspektroskopi kan vi analysera sammansättning och tjocklek hos mycket tunna skikt (~0.5 nm). Exempel på tillämpningar är analys av ytrenhet hos biokompatibla implantat och missfärgningar hos rostfria stål. Tekniken kräver att materialet är elektriskt ledande.

Auger-djupprofil från multilagerskikt av kiseloxid och titanoxid



Sekundärjonmasspektrometri (ToF-SIMS), PHI TRIFT II

ToF-SIMS används för att karaktärisera mycket tunna skikt hos alla material. Masspektrometri lämpar sig utmärkt för analys av organiska material som t.ex. polymerfilmer. Då känsligheten är mycket hög kan mycket små halter av ämnen detekteras. 

Bild på ToF-SIMS-instrumentets vakuumkammare och jonkanon